雷尼紹推出XM-60多光束激光干涉儀
2017-3-6 來源：雷尼紹 作者：-
世界領先的測量專家雷尼紹發布XM-60多光束激光干涉儀，只需一次設定即可在任意方向測量線性軸全部6個自由度。與傳統激光測量技術相比，XM-60在易用性和省時方面做出了重大改進。
隨著對工件的公差要求越來越高，制造商需要考慮所有來自機床加工工件的誤差源；角度誤差以及線性和直線度誤差。XM-60經過一次設定便可采集所有誤差。這臺多光束激光干涉儀專為機床市場而設計，充實了包括XL-80激光干涉儀、XR20-W無線型回轉軸校準裝置以及QC20-W無線球桿儀在內的雷尼紹校準產品線。XM-60利用XC-80環境補償器對環境條件實施補償。
XM-60多光束激光干涉儀具有獲得專利的光學滾擺測量與光纖發射器這一獨特技術，是一臺高精度激光系統。輕型發射器遠離激光源，從而減少測量點處的熱影響。發射器可直接通過其側面甚至后面安裝到機器上或者上下倒置安裝，非常適用于難以接近的機器區域。
減少測量的不確定度對任何用戶都非常重要。雷尼紹XM-60直接測量機床誤差，減少其他測量技術中使用復雜數學計算而產生的誤差。直接測量可通過用戶現有的XL-80測量零件程序對機器調整前后的精度進行快速、簡單對比。接收器可進行完全無線操作，由充電電池供電，從而在機器移動中避免電纜拖拽，因為在測量過程中電纜拖拽可能會引起誤差或激光束“斷光”。
XM-60測量6個自由度
每一臺XM-60多光束激光干涉儀的性能均可溯源至國際標準，而且在發貨前已經過認證。這可以讓客戶確信他們的系統將在精度要求高的場合一如既往地提供高精度測量。
為支持XM-60多光束激光干涉儀的推出，雷尼紹將發布全新版本CARTO軟件包，指導用戶完成測量過程。CARTO 2.0包含Capture（數據采集）和Explore（數據瀏覽）功能，目前用于XL-80激光干涉儀系統的數據采集和分析。CARTO用戶界面可輕松根據不同的用戶需求進行配置，能夠改變黑、白背景并顯示定制。支持平板電腦，具有擴展菜單部分，適合在小型屏幕進行操作。自動保存測試方法，因此重復測試的用戶可調用較早的一個測試。
Capture 2.0提供一個全新的零件程序生成器，支持Fanuc 30、Heidenhain 530、Mazak Matrix以及Siemens 840D等系列控制器，以后的版本中將支持更多控制器類型。其另一高級功能是在程序中基于用戶所選的平均周期，自動設定延時時間，并在使用XL-80系統時通過“時間匹配”模式支持定時采集。在XM-60模式下，Capture 2.0使用校準規直線度測量功能，更為方便。
在機器上工作的XM-60多光束激光干涉儀
XM-60為用戶提供一次移動后測量所有自由度的強大的機床診斷功能。通過在任何測量中一次采集三種線性誤差源和三種旋轉誤差源，用戶可以發現他們的特定誤差源；當只測量線性精度時看到的是各誤差源對線性精度的影響結果，而不是具體誤差源。利用Explore 2.0應用可處理所有數據，提供所有六個數據通道摘要視圖，每個誤差都可以根據相對應的一系列國際標準進行顯示。在Explore 2.0中可對大量數據進行輕松管理。用戶定義標簽能夠分配至數據庫中保存的任何測試或測試組，可利用這些標簽進行數據篩選。
雷尼紹XM-60多光束激光干涉儀存放在一個堅固的Peli™系統便攜箱中，便攜箱有足夠的空間來放置附件以及XC-80補償器組件。此便攜箱可用于激光系統的安全存儲以及運輸，在許多應用場合，激光裝置不用從便攜箱中取出即可執行測量，簡化了操作。提供可選夾具組件，用于將XM-60安裝在機床上，夾具組件存放在便攜箱中，便于運輸。
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雷尼紹公司 (Renishaw plc) 是世界測量和光譜分析儀器領域的領導者。我們開發的創新產品可顯著提高客戶的經營業績 — 從提高制造效率和產品質量、極大提高研發能力到改進醫療過程的功效。
我們的產品可廣泛應用于機床自動化、坐標測量、增材制造、比對測量、拉曼光譜分析、機器校準、位置反饋、口腔CAD/CAM、形狀記憶合金、大尺寸范圍測繪、立體定向神經外科和醫學診斷等領域。在所有這些領域，我們的目標都是成為長期合作伙伴，不管現在還是將來，都始終如一地提供滿足客戶需求的優異產品，并提供快捷、專業的技術和商業支持。
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如果您有機床行業、企業相關新聞稿件發表，或進行資訊合作，歡迎聯系本網編輯部， 郵箱：skjcsc@vip.sina.com
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