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光學(xué)測量的新紀(jì)元：速度、精度和可探測性，改寫了業(yè)界的掃描規(guī)則！

      日前，?？怂箍涤嬃堪l(fā)布HP-O技術(shù)解決方案 — 基于調(diào)頻干涉式光學(xué)測距技術(shù)，為固定式三坐標(biāo)測量機所提供的新型光學(xué)掃描技術(shù)。

      HP-O提供了與觸發(fā)式掃描測頭相媲美的精度與可靠性，同時提供了更快的掃描速度、擴大的測量范圍，并擁有通用光學(xué)非接觸測量的優(yōu)勢。如果需要高效的掃描測量，而觸發(fā)測頭難以接近工件，或者零部件會在觸發(fā)探測過程中變形或受損，HP-O將是高精度觸發(fā)掃描的替代選擇。

      HP-O解決方案支持多傳感器測量：借助測頭更換架，多個光學(xué)測頭和觸發(fā)測頭可以在一個程序中互換。光學(xué)測頭可用于單點檢測和在開放循環(huán)模式中的3軸或4軸掃描測量。該解決方案提供了一個完整的測量系統(tǒng)，包含QUINDOS測量軟件 和Leitz PMM-C高精度測量機。

      HP-O的新型輕型測頭擁有± 30°的接收角度，重復(fù)性小于0.3 μm。HP-O的獨特優(yōu)勢還包括：

•        非接觸測量：使得零件免受任何機械損傷，可避免測針磨損，同時零件不需要任何噴涂標(biāo)記。

•        測頭直徑只有3 mm，測量范圍高達(dá)20 mm，能夠接觸到觸發(fā)測頭難以到達(dá)的特征。

•        減少機械探測的局限性，實現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)采集，提供了更快的掃描速度。

•        空間分辨率高，完成最小細(xì)節(jié)乃至微觀尺寸的測量。

•        以高點密度簡便的獲得特征信息。

      “很多人希望通過光學(xué)測量解決觸發(fā)探測方式的局限性，例如損傷敏感的零件表面，”Ingo Lindner，海克斯康計量的產(chǎn)品線經(jīng)理說。“然而，光學(xué)傳感器往往難以整合到三坐標(biāo)測量機的標(biāo)準(zhǔn)工作流程中，因此，光學(xué)測頭僅僅使用在特殊情況下?，F(xiàn)在，隨著?？怂箍涤嬃咳鴺?biāo)測量機專門配備的HP-O解決方案的發(fā)布，我們相信找到了領(lǐng)先于其他測量系統(tǒng)的高效高精密光學(xué)掃描方案。”

關(guān)于?？怂箍涤嬃浚?/strong>

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      憑借遍布全球的20多個測量產(chǎn)品制造基地、70個提供技術(shù)服務(wù)與方案展示的精密計量中心，以及分布于五大洲的100多個分銷合作伙伴所組成的網(wǎng)絡(luò)，確?？蛻敉耆瓶仄渖a(chǎn)流程、提升產(chǎn)品質(zhì)量并提高生產(chǎn)效率。

      ?？怂箍涤嬃侩`屬于?？怂箍?span>(Nordic exchange: HEXA B; www.hexagon.com)。?？怂箍凳侨蝾I(lǐng)先的規(guī)劃、測量和可視化技術(shù)供應(yīng)商，協(xié)助客戶規(guī)劃、測量和定位對象，實現(xiàn)數(shù)據(jù)的優(yōu)化處理與展現(xiàn)。

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